JIS C5402-14-5-2016電子設(shè)備連接器。測(cè)試和測(cè)量。第14-5部分:密封試驗(yàn)。試驗(yàn)14e: JIS C5402-11-11-2005浸入低氣壓的電子設(shè)備連接器。測(cè)試和測(cè)量。第11-11部分:氣候試驗(yàn)。測(cè)試11k:低氣壓JIS C 5402儀器。測(cè)試和測(cè)量。第11-2部分:氣候試驗(yàn)。試驗(yàn)11b:組合/順序低溫、低壓和濕度JIS C60068-2-39-2004環(huán)境試驗(yàn)。第二部分:測(cè)試。試驗(yàn)Z/AMD:低溫、低壓和濕熱組合試驗(yàn)JIS C60068-3-2-2004基本環(huán)境試驗(yàn)程序。第3部分:背景信息。第2節(jié):溫度和低壓組合試驗(yàn)JIS C0031-1995環(huán)境試驗(yàn)。第二部分:測(cè)試。試驗(yàn)Z/BM:干熱/低壓組合試驗(yàn)JIS C60068-2-40-1995環(huán)境試驗(yàn)。第二部分:測(cè)試。試驗(yàn)Z/AM:低溫/低壓組合試驗(yàn)JIS C60068-2-41-1995環(huán)境試驗(yàn)。第2部分:試驗(yàn)，試驗(yàn)Z/BM:干熱/低壓組合試驗(yàn)JIS C0030-1995低壓組合試驗(yàn)JIS C0029-1989基本環(huán)境試驗(yàn)程序。第二部分:測(cè)試。試驗(yàn)M:低壓試驗(yàn)JIS C60068-2-13-1989基本環(huán)境試驗(yàn)程序。第二部分:測(cè)試。試驗(yàn)M:低壓JIS C5029-1975電子元件低壓試驗(yàn)方法，英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)協(xié)會(huì)，高海拔低壓標(biāo)準(zhǔn)
英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)60068-2-39-2016環(huán)境試驗(yàn)。測(cè)試。試驗(yàn)和指南:通過(guò)BS ISO 11513-2011鋼瓶低壓試驗(yàn)獲得的綜合溫度或溫度和濕度?？沙潆姾附愉撈堪ǖ蛪撼錃獍b材料(不含乙炔)。設(shè)計(jì)、建造和測(cè)試、使用并定期檢查英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)ISO 11513-2011鋼瓶。充電焊接鋼瓶包括低壓充氣包裝材料(不包括乙炔)。BS EN 60512-14-5-2006電子設(shè)備連接器的設(shè)計(jì)、施工、試驗(yàn)、使用和定期檢查。測(cè)試和測(cè)量。密封試驗(yàn)。測(cè)試14e。低壓下浸沒(méi)式BS EN 60749-2-2002半導(dǎo)體器件。機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法。低壓BS EN 60512-11-11-2002電子設(shè)備連接器。測(cè)試和測(cè)量。氣候試驗(yàn)BS EN 60512-11-2-2002電子設(shè)備連接器。測(cè)試和測(cè)量。氣候測(cè)試。測(cè)試11b。組合/順序低溫、低壓和濕熱BS EN 2591-6314-2001電氣和光學(xué)連接元件。測(cè)試方法。光學(xué)元件。低壓浸沒(méi)試驗(yàn)BS EN 60068-2-41-2000環(huán)境試驗(yàn)。測(cè)試方法。測(cè)試Z/BM。干熱/低壓組合試驗(yàn)BS EN 60068-2-40-2000環(huán)境試驗(yàn)AM。冷/低壓聯(lián)合試驗(yàn)BS EN 60068-2-39-1999環(huán)境試驗(yàn)。測(cè)試方法。測(cè)試Z/AMD。低溫低壓濕熱綜合連續(xù)試驗(yàn)BS EN 60068-2-13-1999環(huán)境試驗(yàn)。測(cè)試方法。測(cè)試。試驗(yàn)M:低壓BS EN 60068-3-2低壓試驗(yàn)BS EN 2591-314-1998光電連接元件。測(cè)試方法。低壓浸沒(méi)式BS EN 2591-311-1998光電連接元件。測(cè)試方法。低壓BS EN 61300-2-29-1997光纖互連裝置和無(wú)源元件。基本測(cè)試和測(cè)量程序。測(cè)試。低壓測(cè)試英國(guó)標(biāo)準(zhǔn)ISO 9022-5-1995
IEC 60068-2-13-2014環(huán)境測(cè)試。第2-13部分:測(cè)試。試驗(yàn)M:低壓KS IEC 60068-2-13-2014環(huán)境試驗(yàn)。第2-13部分:測(cè)試。測(cè)試M:低壓KS IEC 60749-2-2004半導(dǎo)體器件EC 60749-2-2004半導(dǎo)體器件。機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法。第2部分:電子設(shè)備用低壓KS C IEC 60512-11-11-2004連接器。第11-11部分:氣候試驗(yàn)。試驗(yàn)11k:低壓KS C IEC 60068-3-2-2003基礎(chǔ)環(huán)境試驗(yàn)段:電子設(shè)備用溫度/低壓綜合試驗(yàn)KS C IEC 60512-11-2-2002連接器。測(cè)試和測(cè)量。第11-2部分:氣候試驗(yàn)。測(cè)試11b:低溫、低壓和濕熱聯(lián)合/順序國(guó)際標(biāo)準(zhǔn)化組織，高海拔低壓標(biāo)準(zhǔn)。
ISO 17357-2-2014船舶和航海技術(shù)。浮動(dòng)氣動(dòng)橡膠護(hù)舷。第2部分:低氣壓，高海拔低氣壓標(biāo)準(zhǔn)
IRAM 11 511-1962帶低壓液體檢查蓋的石棉水泥管，美國(guó)國(guó)家消防協(xié)會(huì)，高海拔低壓標(biāo)準(zhǔn)
NFPA 99B-2010低壓設(shè)備標(biāo)準(zhǔn)。生效日期:2009年6月15日，美國(guó)國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)學(xué)會(huì)，高海拔低壓標(biāo)準(zhǔn)。
ANSI/NFPA 99B-2010低壓設(shè)施標(biāo)準(zhǔn)ANSI/EIA/TIA 455-190-1992光纖元件低壓(高空)試驗(yàn)國(guó)家軍事標(biāo)準(zhǔn)-國(guó)防科學(xué)技術(shù)工業(yè)委員會(huì)，高空低壓標(biāo)準(zhǔn)
GJB 5895.30-2006反坦克導(dǎo)彈試驗(yàn)方法第30部分:末制導(dǎo)炮彈低壓(高度)試驗(yàn)方法GJB 5491.32-2005第32部分:炮射導(dǎo)彈低壓(高度)試驗(yàn)方法GJB 5389.38-2005第38部分:低壓(高度)試驗(yàn)，法國(guó)標(biāo)準(zhǔn)化協(xié)會(huì)，關(guān)于高空低壓的標(biāo)準(zhǔn)。
NF C93-400-14-5-2006電子設(shè)備用連接器。測(cè)試和測(cè)量。第14-5部分:密封試驗(yàn)。試驗(yàn)14e:低壓下用NF C96-022-2-2002浸漬的半導(dǎo)體器件。機(jī)械和氣候試驗(yàn)方法。第2部分:低壓NFL54-002-117-2000第4部分:光學(xué)元件。低氣壓下電子設(shè)備用浸漬NF C93-400-11-2-2002連接器。測(cè)試和測(cè)量。第11-2部分:氣候試驗(yàn)。試驗(yàn)11b:電子設(shè)備用混合低溫/順序低溫低壓濕熱NF C93-400-11-11-2002連接器。測(cè)試和測(cè)量。第11-11部分:氣候試驗(yàn)。試驗(yàn)11k:低壓NF C20-741-2000環(huán)境試驗(yàn)。第二部分:測(cè)試。Z/BM試驗(yàn):干熱/低壓混合試驗(yàn)NFC20-740-。AM試驗(yàn):低溫/低壓混合試驗(yàn)NF C20-403-2-1999環(huán)境試驗(yàn)。第3部分:背景信息。第2節(jié):組合溫度/低壓試驗(yàn)NF C20-713-1999環(huán)境試驗(yàn)。第2部分:試驗(yàn)方法。m試驗(yàn):低壓NF C20-739-1999環(huán)境試驗(yàn)。第2部分:環(huán)境試驗(yàn)AMD試驗(yàn):組合連續(xù)低溫、低氣壓和濕度試驗(yàn)NF C93-902-29-1998光纖互連器件和無(wú)源元件。基本測(cè)試和測(cè)量程序。第2-29部分:測(cè)試。低氣壓NF L54-002-030-1998航空航天系列。電氣和光學(xué)連接元件。測(cè)試方法。
